電科思儀推出國內首套500GHz多功能芯片測試解決方案
來源：新聞中心
發布時間：2026年01月26日 編輯：新聞中心
近日，電科思儀研制出3601型S參數測試模塊、36102型探針、20501型校準片等系列產品，結合商業探針臺，在國內首次推出最高頻率至500GHz的高穩定、多功能太赫茲芯片測試解決方案。
太赫茲技術正加速從實驗室走向商業應用，使得行業對太赫茲芯片測試的要求發生了根本性轉變，測試目標已不再局限于功能層面的“能用”，而是全面追求復雜真實場景中性能穩定、測試高效且成本可控的“好用”。電科思儀太赫茲多功能芯片測試解決方案，能夠實現太赫茲芯片幅度、相位、群時延等參數精準測試。該方案具有良好的幅度穩定性和相位穩定性，適用于晶圓級太赫茲芯片的研發驗證與量產測試。結合自主開發的多功能測試軟件算法，一次扎針可實現散射參數、功率參數的一體化測試，大幅度提升晶圓級太赫茲芯片的測試效率和測試精度。
